-
1 ion microscope
ионный микроскоп
Микроскоп, в к-ром для получения изображений применяют пучок ионов, создаваемый термоионным или газоразрядным ионным источником. По принципу действия и. м. аналогичен эл-нному. Пройдя через объект, ионный пучок фокусируется системой электростатических или магнитных линз и дает на экране или фотослое увелич. изображение объекта. Создано пока лишь несколько опытных образцов и. м. Работы по его усовершенствованию продолжаются. И. м. должен обладать более высокой разреш. способностью по ср. с эл-нным. Однако и. м. пока не нашел практич. применения. Значительно более эффективным оказался и. м. без линз, т. наз. автоионный микроскоп, или ионный проектор.
[ http://metaltrade.ru/abc/a.htm]Тематики
EN
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > ion microscope
-
2 ion microscope
English-Russian dictionary on nuclear energy > ion microscope
-
3 ion microscope
-
4 ion microscope
Техника: ионный микроскоп -
5 ion microscope
-
6 ion microscope
-
7 ion microscope
The New English-Russian Dictionary of Radio-electronics > ion microscope
-
8 ion microscope
ионный микроскопEnglish-Russian dictionary of technical terms > ion microscope
-
9 ion microscope
-
10 field-ion microscope
English-Russian big polytechnic dictionary > field-ion microscope
-
11 field-ion microscope
автоионный микроскоп
ионный проектор
Безлинзовый ионно-оптич. прибор для получения увелич. в неск. миллионов раз изображения поверхности тв. тела. С помощью а. м. можно различать детали поверхности, раздел, на 0,2-0,3 нм, что дает возможность наблюдать располож. отд. атомов в кристаллич. решетке. А. м. изобретен в 1951 г. нем. ученым Э. Мюллером. Принц. схема а. м. показана на рис. Положит. электродом и одноврем. объектом, поверхность к-рого изоб-раж. на экране, служит острие тонкой иглы. Атомы (или молекулы) газа, заполн. внутр. объем прибора, ионизир. в сильном электрич. поле вблизи поверхности острия, отдавая ему свои эл-ны. Возникшие положит. ионы, приобретая под действием поля радиальное (перпендик. поверхности острия) ускорение, устремляются к флюоресцирующему экрану (потенциал к-рого отрицателен) и бомбардируют его. Свечение каждого элемента экрана пропорц. плотности приходящегося на него ион. потока. Поэтому чем тоньше острие, тем больше увеличение. А. м. широко применяют для исследования ат. структуры металлов и сплавов и ее связи с их механич. св-вами; дефектов в кристаллах; процессов коррозии; адсорбции и десорбции; св-в тонких пленок, осажд. на поверхности металлов, и др.
[ http://metaltrade.ru/abc/a.htm]Тематики
Синонимы
EN
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > field-ion microscope
-
12 field ion microscope
физ. автономный микроскоп -
13 field-emission ion microscope
The English-Russian dictionary general scientific > field-emission ion microscope
-
14 field-ion microscope
The English-Russian dictionary general scientific > field-ion microscope
-
15 field ion microscope
Большой англо-русский и русско-английский словарь > field ion microscope
-
16 field-ion microscope
Большой англо-русский и русско-английский словарь > field-ion microscope
-
17 field ion microscope
[ʹfi:ld͵aıənʹmaıkrəskəʋp] физ. -
18 field-ion microscope
Англо-русский словарь технических терминов > field-ion microscope
-
19 field-ion microscope
Англо-русский металлургический словарь > field-ion microscope
-
20 field ion microscope
См. также в других словарях:
ion microscope — ion microscope, = field ion microscope. (Cf. ↑field ion microscope) … Useful english dictionary
ion microscope — an electron microscope modified to use ions (e.g., of lithium), instead of electrons … Medical dictionary
ion microscope — Смотри ионный микроскоп … Энциклопедический словарь по металлургии
Scanning Helium Ion Microscope — A Scanning Helium Ion Microscope (SHIM) is a new imaging technology based on a scanning helium ion beam. [ [http://nanotechwire.com/news.asp?nid=2120 ntid=121 pg=1 Nanotechwire press release announcing new microscope, retrieved December 13, 2006] … Wikipedia
Field ion microscope — Field ion microscopy (FIM) is an analytical technique used in materials science. The field ion microscope is a type of microscope that can be used to image the arrangement of atoms at the surface of a sharp metal tip.It was the first technique by … Wikipedia
Scanning Helium Ion Microscope — Ein Helium Ionen Mikroskop (auch: Scanning Helium Ion Microscope, SHIM) ist ein bildgebendes Verfahren, welches darauf basiert, dass ein Helium Ionen Strahl das zu untersuchende Objekt abtastet[1]. Das Verfahren ähnelt dem eines… … Deutsch Wikipedia
field-ion microscope — /feeld uy euhn, uy on/ a device in which the atomic structure of the surface of a conductor is made visible by introducing helium gas into the device and applying a high voltage to ionize and accelerate the gas toward a fluorescent screen. Cf.… … Useful english dictionary
field-emission ion microscope — autoemisinis joninis mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. field emission ion microscope vok. Feldionenmikroskop, n rus. автоэмиссионный ионный микроскоп, m pranc. microscope à émission ionique de champ, m … Radioelektronikos terminų žodynas
field-emission ion microscope — autoemisinis joninis mikroskopas statusas T sritis chemija apibrėžtis Mikroskopas, kuriuo matomą vaizdą sukuria emituoti bandinio jonai. atitikmenys: angl. field emission ion microscope rus. автоэмиссионный ионный микроскоп … Chemijos terminų aiškinamasis žodynas
field ion microscope — noun : a high magnification microscope in which an image of the atoms of a metal surface is formed on a fluorescent screen by means of usually helium ions formed in a high voltage electric field • field ion microscopy noun … Useful english dictionary
field-ion microscope — /feeld uy euhn, uy on/ a device in which the atomic structure of the surface of a conductor is made visible by introducing helium gas into the device and applying a high voltage to ionize and accelerate the gas toward a fluorescent screen. Cf.… … Universalium